Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
Михаил Криштал
Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства,…
Развернуть
| Серия: | Мир физики и техники |
| Издательство: | Техносфера |
ISBN: 978-5-94836-200-7
Год издания: 2009
Язык: Русский
Тираж: 1500 экз.
Формат: 60x100/16 (~140x235 мм)
Жанры: Автоматика и телемеханика
Теги:
Похожие книги
Вы можете посоветовать похожие книги по сюжету, жанру, стилю или настроению. Предложенные вами книги другие пользователи увидят здесь, в блоке «Похожие книги». Посоветовать книгу
