Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
Д. Брандон, У. Каплан
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и…
Развернуть
| Издательство: | Техносфера |
ISBN: 5-94836-018-0, 0-471-98501-5
Год издания: 2006
Язык: Русский
Жанры: Технические науки, Техническая литература, Промышленность, Металлургия
Теги:
Похожие книги
Вы можете посоветовать похожие книги по сюжету, жанру, стилю или настроению. Предложенные вами книги другие пользователи увидят здесь, в блоке «Похожие книги». Посоветовать книгу
